ZEISS Sigma 300
Dòng ZEISS Sigma kết hợp công nghệ SEM phát xạ trường (FE-SEM) đem đến người dùng trải nghiệm tuyệt vời. Quy trình chụp ảnh và phân tích nâng cao hệu suất với 4 bước làm việc trực quan của Sigma. Người dùng sẽ thu thập được nhiều dữ liệu hơn, nhanh hơn bao giờ hết. Chọn từ nhiều tùy chọn máy dò để điều chỉnh cho máy Sigma một cách chính xác cho các ứng dụng của bạn: có thể ứng dụng thu thập hình ảnh các hạt, bề mặt, cấu trúc nano, màng mỏng, phủ và phân lớp.
Với dòng Sigma đem đến trải nghiệm thế giới hình ảnh cao cấp: Sigma 300 mang đến sự tối ưu về chi phí và hiệu suất, trong khi đó khả năng phân tích hình học EDS của Sigma 500 là tốt nhất trong phân khúc của mang lại hiệu suất phân tích tuyệt vời
- Mô tả
- Thông tin bổ sung
Mô tả
ĐIỂM NỔI BẬT
Dò tìm linh hoạt cho ra hình ảnh rõ nét
+ Điều chỉnh máy Sigma theo nhu cầu bằng cách sử dụng công nghệ phát dò ảnh mới nhất và đặc trưng cho tất cả các mẫu của bạn.
+ Xác định đặc trưng thành phần, tinh thể học và địa hình bề mặt với máy dò tán xạ ngược hình khuyên (aBSD). Nó cung cấp hình ảnh kV thấp tuyệt vời trong mọi điều kiện chân không.
+ Tăng lợi ích từ việc cải thiện độ nhạy, tăng tỷ lệ tín hiệu thực trên độ nhiễu và tốc độ cao hơn.
+ Trải nghiệm thế hệ máy dò điện tử thứ cấp (SE) mới. chất lượng hình ảnh tốt từ các máy dò C2D và VPSE của Sigma ở chế độ áp suất thay đổi: làm việc ở chân không thấp, có được hình ảnh sắc nét với độ tương phản cao hơn tới 85%.
Tự động hóa và tăng tốc độ xử lý
+ Quy trình làm việc gồm 4 bước cho phép bạn kiểm soát tất cả các chức năng của Sigma. Tăng hiệu suất từ thời gian sang hình ảnh nhanh chóng và tiết kiệm thời gian đào tạo – đặc biệt là trong môi trường nhiều người dùng.
+ Đầu tiên, điều hướng mẫu của bạn và sau đó thiết lập các điều kiện chụp ảnh tối ưu.
+ Tiếp theo, tự động thu nhận hình ảnh trên nhiều mẫu bằng cách sử dụng các vùng quan tâm (ROI).
+ Sử dụng bước cuối cùng của quy trình làm việc để trực quan hóa kết quả của bạn theo ngữ cảnh.
+ Cuối cùng, SmartSEM Touch thu thập và trình bày dữ liệu của bạn dưới dạng bản đồ tương tác để bạn có thể hiểu mẫu của mình một cách tối ưu.
Tăng hiệu suất kính hiển vi phân tích nâng cao
+ Kết hợp kính hiển vi điện tử quét và phân tích nguyên tố: dạng hình học EDS tốt nhất trong lớp của Sigma làm tăng năng suất phân tích của bạn, đặc biệt là trên các mẫu nhạy cảm với chùm tia.
+ Nhận dữ liệu phân tích với một nửa dòng điện thăm dò và gấp đôi tốc độ.
+ Phân tích hoàn chỉnh, không đổ bóng trong FE-SEM. Lợi nhuận từ việc sử dụng khoảng cách làm việc phân tích ngắn 8,5 mm và góc khởi 35 °.
| – Nguồn điện tử: | Máy phát nhiệt trường Schottky |
| – Độ phân giải * ở 30 kV (STEM): | 1,0 nm |
| – Độ phân giải * ở 15 kV: | 1,0 nm |
| – Độ phân giải * ở 1 kV: | 1,6 nm |
| – Độ phân giải * ở 30 kV (Chế độ VP): | 2.0 nm |
| – Dò tìm vật liệu nền (BSD): | aBSD / HDBSD |
| – Tốc độ quét tối đa: | 50 ns / pixel |
| – Điện áp tăng tốc: | 0,02 – 30 kV |
| – Độ phóng đại: | 10 × – 1.000.000 × |
| – Dòng điện thăm dò: | 3 pA – 20 nA (100 nA tùy chọn) |
| – Khung ảnh: | 32 k × 24 k điểm ảnh |
| – Cổng: | 10 |
| – Cổng EDS: | 2 (1 cổng chuyên dụng) |
| Chế độ chân không: | |
| – Chân không cao: | Có |
| – Áp suất thay đổi: | 10-133 Pa |
| – Loại bàn đặt mẫu: | bàn cho mẫu phức hợp 5 trục |
| – Hành trình X: | 125 mm |
| – Hành trình Y: | 125 mm |
| – Hành trình Z: | 50 mm |
| – Di chuyển T bàn đặt mẫu : | -10 đến +90 độ |
| – Di chuyển R bàn đặt mẫu: | 360 ° Liên tục |
Đang cập nhập…
Nghiên cứu Vật liệu
– Hình ảnh có độ phân giải cao và phân tích các vật liệu nano mới
– Phân tích lớp phủ và màng mỏng
– Đặc tính của các dạng khác nhau của carbon và các vật liệu 2D khác
– Hình ảnh, phân tích và phân biệt các vật liệu polyme
– Thực hiện nghiên cứu pin để hiểu các tác động và chất lượng lão hóa cải tiến
Khoa học đời sống
– Hình ảnh độ phân giải cao và phân tích thông lượng cao của mẫu sinh học cố định nhiệt độ thấp.
– Nghiên cứu các mẫu vật hữu cơ như răng, xương, chứa collagen polyme sinh học như tóc
Khoa học địa chất và khoáng vật học
– Hoàn thành đặc điểm của khoáng sản và đá
Tài nguyên thiên nhiên
– Điều tra nhanh chóng, chính xác các mẫu lõi khoáng vật
– Đạt được thông lượng cao trong các phòng thí nghiệm trung tâm
– Phân loại tương quan để phân biệt pha
Ứng dụng công nghiệp
– Phân tích hư hỏng của vật liệu và các thành phần được sản xuất
– Hình ảnh và phân tích thép và kim loại
– Kiểm tra thiết bị y tế
– Đặc điểm của các thiết bị bán dẫn và điện tử trong kiểm soát và chẩn đoán quy trình
– Lấy dấu vân tay hóa học của vật liệu và thiết bị bán dẫn bằng cách xác định cấu trúc mức năng lượng dao động và quay độc đáo của chúng
Đang cập nhập…
– ZEISS SmartSEM Touch- phân chia nhiều quyền truy cập
– ZEISS Atlas 5 – giúp cho việc phân tích hình E6
– Mô phỏng bề mặt 3D – 3DSM
– Phần mềm Phân tích và Trực quan ZEISS đề xuất Dragonfly Pro từ Hệ thống Nghiên cứu Đối tượng (ORS)
Thông tin bổ sung
| Hãng sản xuất | Zeiss |
|---|---|
| Xuất xứ | Đức |
| Loại | Thủ công |
